产品系列 - 半导体

X ray 检测设备

特性:

  • 能量低, 高穿透能力
  • 解像度高
  • 系統操作容易
  • 简单, 安全的设计

应用方面:

  • BGA 封装电路板的检测
  • 多层封裝电路板的内层检测

推荐型号:

  • Jewel Box 90T 
  • Jewel Box Ultra Compact

 

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